典型的范圍和精度
下圖顯示了標(biāo)準(zhǔn)目標(biāo)的典型范圍和準(zhǔn)確性。 更大的目標(biāo)通常可以提供更大的測量范圍以及較薄測量的*精度。 選擇目標(biāo)時(shí)應(yīng)考慮以下因素：

材料的zui小曲率
zui大厚度測量
測量所需的精度
材料的壓縮性（較大或磁珠會壓縮材料，然后較小或無磁性靶球）
表面硬度：磁性目標(biāo)球不會像滾動的非磁性靶球一樣沿著表面滑動。 使用磁珠時(shí)，用戶要小心，確保材料表面不會被磁性目標(biāo)球劃傷。
一般來說，通過使用在測試件中自由移動的zui大目標(biāo)球，將獲得的結(jié)果。

校準(zhǔn)：霍爾效應(yīng)儀器必須在使用前進(jìn)行校準(zhǔn)，使用與測量相同的探頭和靶標(biāo)。這是通過無目標(biāo)的讀數(shù)來實(shí)現(xiàn)的，目標(biāo)接觸探針（零厚度），并在兩個(gè)或更多個(gè)參考厚度。這允許儀器產(chǎn)生一個(gè)校準(zhǔn)表，其中繪制電壓變化與厚度的關(guān)系。校準(zhǔn)將每個(gè)使用的目標(biāo)與本機(jī)的內(nèi)存查找表進(jìn)行匹配。校準(zhǔn)還可以測量目標(biāo)可能位置的兩個(gè)極值（“球開”和“球關(guān)”），并將這些端點(diǎn)分配給查找表。已知厚度的附加校準(zhǔn)點(diǎn)用于微調(diào)表格以獲得*精度。在操作過程中，每當(dāng)探頭方向或環(huán)境溫度變化時(shí)，應(yīng)進(jìn)行校準(zhǔn)。

MagnaMike 8600圖示目標(biāo)球的自由運(yùn)動：由于霍爾效應(yīng)測量儀測量探頭和目標(biāo)之間的距離，球的幾何阻塞將導(dǎo)致不準(zhǔn)確的測量。類似地，探針必須與部件緊密接觸。當(dāng)表面幾何形狀限制接觸面積時(shí)，應(yīng)使用鑿點(diǎn)磨損帽。

附近的磁性物體和磁場：探頭不應(yīng)用于鐵質(zhì)材料，如碳鋼長凳，貨架，支架，支架，手表或首飾，或靠近電動機(jī)或類似的電磁干擾源。它應(yīng)該保持至少8英寸（200毫米）從電腦。所有這些都會影響探頭的磁場，導(dǎo)致不準(zhǔn)確的測量。當(dāng)測量每個(gè)目標(biāo)類型的zui大厚度附近時(shí)，這一點(diǎn)尤為重要。

探測方向：由于Magna-Mike 8600通過監(jiān)測磁場的小變化來測量厚度，其校準(zhǔn)過程包括對地球磁場的影響的自動補(bǔ)償。zui常見的是，探針以一個(gè)恒定的方向被保持在一個(gè)立場上。然而，在探針以不同的方向（例如水平保持）使用的情況下，或者當(dāng)在掃描彎曲部分的外部方向改變時(shí)，必須更新校準(zhǔn)。在Magna-Mike 8600中，Q-Cal功能用于進(jìn)行此更正。當(dāng)測量每個(gè)目標(biāo)類型的zui大厚度附近時(shí)，這一點(diǎn)尤為重要。只需移除目標(biāo)物并按住Q-Cal鍵，同時(shí)將探頭保持在所需的方向。

粗糙或垂直的測試表面：當(dāng)探頭被掃描時(shí)，表面粗糙度或凹槽可導(dǎo)致目標(biāo)球暫時(shí)掛起，從而增加表觀厚度。當(dāng)使用探頭測量水平方向的垂直表面時(shí)，重力會導(dǎo)致目標(biāo)球從探頭的中心線掉落。在這些情況下，MIN Capture模式應(yīng)用于確保真實(shí)zui小厚度的測量。

導(dǎo)線目標(biāo)：使用導(dǎo)線目標(biāo)時(shí)，探針必須至少距離導(dǎo)線末端1英寸（25毫米）。在測量點(diǎn)，必須將電線牢固地按壓在測試片上，因?yàn)榕c任何其他目標(biāo)一樣，麥格納 - 邁克實(shí)際上正在測量與目標(biāo)的距離，而不是直徑的壁厚。必須保持探針和導(dǎo)線之間的角度對準(zhǔn)（通常是垂直的），因?yàn)閷?dǎo)線傾斜會影響讀數(shù)。電線目標(biāo)不應(yīng)扭曲或彎曲。

介紹：奧林巴斯Magna-Mike 8600霍爾效應(yīng)測厚儀是小型，輕便的儀器，旨在對非磁性材料（如塑料，玻璃，復(fù)合材料，鋁和鈦）進(jìn)行快速，準(zhǔn)確和可重復(fù)的測量。奧林巴斯Magna-Mike 8600提供兩種類型的探頭，兩種類型的耐磨帽和四種類型的目標(biāo)，以適應(yīng)一系列厚度以及各種各樣的試樣幾何形狀。探頭類型 - 直角和直角探頭可用。 在探頭架上垂直固定的直式探頭zui常用于臺面檢查。 直角探頭設(shè)計(jì)用于部件幾何形狀限制訪問的情況，如在涉及有色鑄件的一些測試中。